如何测量平面度-技术条款
有多种方法可以测量表面的平整度。平面研磨方面最常见的方法是使用单色钠灯单元和光学平晶。此经济的方式提供极其精确的测量，比大多数CMM测量更精确。
什么是光带？
艾萨克·牛顿（Isaac Newton）于1917年首次研究了光带。它们是由两个表面之间的光反射产生的干涉图样。
当使用单色光源时，可以使用该现象来计算组件的平坦度，但是组件的表面必须是反射性的，以便出现光带。亮带由明亮和黑暗的条纹组成。组合起来，它们对应于单色光的波长，在钠光源的情况下，该波长等于589nm。当检查零件的平整度时，只计算暗带，因为这是整个条纹的一半，所以每个暗光带等于294nm或0.00029mm。
金刚石研磨工艺是产生反射表面的理想选择，可以在研磨操作之后直接使用此方法测量平面度。
显示平坦度精度的典型光带图案
| 表面几何 | 1 灯带 0.00029mm |
2 灯带 0.00058mm |
3 灯带 0.00087mm |
9 灯带 0.00261mm |
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|---|---|---|---|---|---|
凸面或凹面表面平行于平面对称图案 |
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凸的带凹面带会向相反方向弯曲非对称模式 |
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圆柱型凸面或凹面对称图案 |
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鞍形对称图案 |
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如何用光学平晶读取光带
首先，使用镜头纸或无绒软布清擦组件和光学平晶的表面。两面都必须绝对干净。小心地将光学平晶放在组件顶部。请勿将其滑过。当光晶平面和组件组合在一起时，光线会穿过平晶。如图所示，对其进行操作以获得线条图案。光线是干涉条纹或光带，表示组件的表面相对于光学平面的上升或下降的高度。
光带读数显示出完美的平面度
平度计算器
研磨盘平面度
凸版
光带环模式朝着手指压力移动。如果工件是凸面的，则研磨盘是凹面的。
研磨盘是凹面
必须将修整控制环移到盘的外部以改正这种情况凹
光带环形模式远离手指压力。如果工件是凹面的，则研磨盘是凸面的。
精研板凸
必须将修整控制环移至盘的内部以改正此情况平直的平行光带表示平面度,而不是光带的宽度。
表面光洁度表
表面是通过各种材料去除工艺而产生。总几何形状可分为三个部分-粗糙度，波纹度和形状。
基本参数
参数-显示了各种参数Ra和Rt。可以看出，中心线是这样划分区域的线：A1 + A3 + ............ A7 = A2 + A4 +............ A8最常见的两个表面粗糙度测量值分别是Ra和Rt。它们的描述如下：
Ra 被公认为最常用的粗糙度国际参数。它是粗糙度轮廓偏离均值线的算术平均值。
Rt 是在测得的长度范围内轮廓的最大峰谷高度。测量值通常以微米为单位。 1微米=约40微米
Ra和Rt的例子
图纸上的表面光洁度或纹理的典型说明：
符号A如何以Ra微米为单位指定最大粗糙度值。
符号B如何指定最大和最小粗糙度值。
符号C如何指定最大粗糙度和精加工工艺。
| 英制到公制 | ||||
|---|---|---|---|---|
| 毫米（mm） | 微米（μm） | 埃 (Å) | ||
| 1 英寸 (1.00”) | = | 25.4 | 25,400 | 254,000,000. |
| 1 千分之一 (0.001”) | = | 0.0254 | 25.4 | 254,000 |
| 1 微英寸 (μin) | = | 0.0000254 | 0.0254 | 254 |
| 公制到英制 | ||||
| 英寸 | 千分之一 | 微英寸 | ||
| 1 毫米 (mm) | = | 0.039 37 | 39.37 | 39,370 |
| 1 微米 (μm) | = | 0.000 039 37 | 0.039 37 | 39.37 |
| 1 埃 (Å) | = | 0.000 000 003 937 | 0.000 003 937 | 0.003 937 |
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